Сканирующая электронная микроскопия
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plusЭкспериментальные методики
Оптическая микроскопия
Инвертированный универсальный металлографический микроскоп Axiovert 200 MAT/M
ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х
Научный сотрудник Беликова А.Ф.
- Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
- Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
- Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
- Окуляры: 10х/25; 16х/16
- Комплект измерительных сеток и шкал
- Галогенная лампа со стабилизированным блоком питания (12В 100Вт)
- Моторизованный вариант микроскопа
- 4 выхода для установки фото-видеосистем (бинокулярная насадка с фото/видеовыходом, фронтальный выход, дополнительные выходы справа и слева)
- компьютер, набор программ обработки изображения.
NiAl на алюминиевой подложке
Порошок NiAl
Керамика на основе V-Ti-Mo-Zr-Ca-Fe-O
Сварное соединение титановых подложек с алюминидом никеля
Сварное соединение титановых подложек (переходной слой на основе Ti-Al-Ni)