Сканирующая электронная микроскопия
 Оптическая микроскопия
 Время-пролетная масс-спектрометрия
 Измерение механических свойств
Измерение удельной поверхности и размера частиц
 Измерение электросопротивления в широком диапазоне температур
 Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь
 Другие методики