Экспериментальные методики
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plus на базе Ultra 55, Германия
(Zeiss Ultra plus Field Emission Scanning Electron Microscope)
![]() Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plus на базе Ultra 55
|
Возможности прибора:
исследование наноструктур порошков и массивных образцов. Разрешение во вторичных электронах:
Ускоряющее напряжение 0,02 В – 30 кВ. Ток зонда 4 пА – 20 nА. Установленные детекторы:
Разрешение 123,84 эВ FWHM при 5,895 кэВ (Mn). Количественный анализ 5B – 94Pu. Анализ в точке, анализ вдоль произвольно заданной линии, анализ по произвольно заданной площади, анализ по массиву точек, построение карт распределения элементов по поверхности образца, идентификация фаз. |
Примеры исследований:

Graphene on the Ni surface

Multilayered Graphene

NiAl-TaNiAl pseudobinary eutectic

TaNiAl phase (Laves-phase)

TaNiAl-NiAl interface

TaNiAl-NiAl interface

MAX-phase Ti3SiC2

MAX-phase Ti3SiC2

MAX-phase Ti3SiC2

MAX-phase Ti3SiC2

MXene Ti3C2

Mn-Mo-Si-Al

Mn-Mo-Si-Al

Fe2O3

Mn-Mo-Si-Al

Mn-Mo-Si-Al

Ni-Al

Ni-Al

Ni-Al

Ni-Al

Ni-Al

Ni-Al

NiO

Ti-C-B

Ti-C-Ni

NiAl3-B

Ti-C-Al

Ti-C-Al

TiC-TiB2-Al2O3-ZrO2