Сканирующая электронная микроскопия
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plusЭкспериментальные методики
- Сканирующая электронная микроскопия:
- Оптическая микроскопия
- Времяпролетная вторично-ионная масс-спектрометрия
- Механические свойства (прочность, твердость, ударная вязкость и др.)
- Измерение удельной поверхности дисперсных и пористых материалов, размера частиц порошков:
- Измерение электросопротивления в широком диапазоне температур (20–1200°С)
- Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь непроводящих керамических материалов
- Другие методики измерения:
- Плотности;
- Пористости.